Liliana Inés Pérez, M.C. Simón
En este trabajo se calcula la posición y contraste de las franjas de interferencia producidas entre una onda plana incidente y la onda reflejada para interfases dieléctrico—metal, haciendo un estudio detallado de los coeficientes de reflexión.
Este trabajo completa el estudio realizado para interfases dieléctrico—dieléctrico (1) (2). Además se comparan las franjas para interfases dieléctrico—dieléctrico y dieléctrico—metal, observándose que, para incidencia rasante (tanto enel caso de reflexión total como en el de reflexión en metales), el mínimo de interferencia no aparece exactamente sobre la superficie de separación.
In this work we calculate the position and contrast of the interference fringes produced by an incident plane wave and the reflected one for a dielectric—metal interface, doinga detailed study of the reflection coefficients.
This work completes the study done for interfaces (1) (2). Furthermore, fringes for dielectric—ciielectric and dielectric—metal interfaces are compared, Observing that for grazing incidence (not onlv in total reflection but in reflection in metals as well), the minimum of interference does not appear exactlv on the surface of separation.
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