Bidirectional Reflection Measurements of Periodically Microstructured Silicon Surfaces

• Autores: T. L. Wright, Y. B. Chen, Q. Z. Zhu
• Localización: International Journal of thermophysics: Journal of thermophysical properties and thermophysics and its applications, ISSN 0195-928X, Nº. 4, 2004, págs. 1235-1252
• Idioma: inglés
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