Magnetoresistance and electron paramagnetic resonance study of La<sub>0.67-y</sub>Y<sub>y</sub>Ba<sub>0.33</sub>MnO<sub>3</sub>/LaAlO<sub>3</sub> thin films
- Autores: S.H. Kim, K.W. Lee, Y.H. Jo, Cheol Eui Lee, J.-I. Choi, S.G. Lee
- Localización: Solid state communications, ISSN 0038-1098, Vol. 131, Nº. 12, 2004, págs. 753-758
- Idioma: inglés
- Texto completo no disponible (Saber más ...)
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