Textura y Estrés: las aplicaciones olvidadas de la Difracción de Rayos X en materiales

• Larrañaga Varga, Aitor ^[1]
  1. [1] Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea

     Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea

     Leioa, España

     
• Localización: Revista de Química (PUCP), ISSN-e 2518-2803, ISSN 1012-3946, Vol. 34, Nº. 1-2, 2020
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Texture and Stress: the forgotten X-ray Diffraction applications applied to materials
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  • Texto completo
• Resumen
  • español

    La cristalografía de rayos X resulta una técnica analítica fundamental para el estudio exhaustivo de la estructura cristalina de los materiales. A pesar de su enorme relevancia tanto a nivel científico como industrial, su cobertura respecto a análisis avanzados ha sido insuficiente hasta ahora. Por lo tanto, en este trabajo mostramos diferentes posibilidades de la difracción de rayos X, muy útil para obtener en algunos casos información crítica de nuestros materiales.

  • English

    X-ray crystallography result constitutes a fundamental analytical technique for the thorough study of the crystalline structure of materials. Despite to its enormous relevance at both scientific and industrial level, the popularization of its advanced analysis methodologies has been insufficient up today. Therefore, in this work we show different application possibilities using the X-ray diffraction, very useful in order to obtain in some cases critical information from our materials.