Accurate Charge-Control Model for Analysis of Noise Properties for AlGaAs/GaAs HEMT and AlGaAs/InGaAs PHEMT At Microwave Frequencies

• Autores: H. P. Vyas, V. Guru
• Localización: Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 42, Nº. 6, 2004, págs. 489-494
• Idioma: inglés
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