Correlation of Stress and Atomic-Scale Surface Roughness Evolution during Intermittent Homoepitaxial Growth of (111)-Oriented Ag and Cu

• Autores: C. Friesen, C. V. Thompson
• Localización: Physical review letters, ISSN 0031-9007, Vol. 93, Nº. 8, 2004, pág. 56104
• Idioma: inglés
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