CHARACTERIZATION OF EXTRAGALACTIC 24 MICRON SOURCES IN THE SPITZER FIRST LOOK SURVEY

• Autores: D. Fadda, G. Helou, F. R. Marleau, L. Yan
• Localización: Astrophysical journal: Supplement series, ISSN 0067-0049, Vol. 154, Nº. 1, 2004, págs. 60-65
• Idioma: inglés
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