Periodo de publicación recogido
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Solving 28 nm I/O circuit reliability issue due to IC design weakness
Yi Chao Low, P. K. Tan, S.-L. Tan, Y.Z. Zhao, J. Lam
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 246-249
Delay-dependent output-feedback stabilisation of discrete-time systems with time-varying state delay
H. Gao, J. Lam, Y. Wang, C. Wang
IEE Proceedings: Control theory and applications, ISSN 1350-2379, Vol. 151, Nº 6, 2004, págs. 691-698
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