Periodo de publicación recogido
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Manufacturing process-based storage degradation modelling and reliability assessment
X. Ye, Y. Lin, C.Q. Wang, H. Niu, G. Zhai
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 107-110
Fault localization of a switched mode power supply based on extended integer-coded dictionary method
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 339-344
Lifetime prediction of aluminum electrolytic capacitors in LED drivers considering parameter shifts
H. Niu, S. Wang, X. Ye, H. Wang, Frede Blaabjerg
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 453-457
H. Niu, H. Wang, X. Ye, S. Wang, Frede Blaabjerg
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 117-122
X. Ye, P. Chen
IEE Proceedings: Control theory and applications, ISSN 1350-2379, Vol. 152, Nº 4, 2005, págs. 387-391
Extracción de superficie con escáner de luz estructurada para tomografía de ángulo limitado
X. Ye, C. Molina, N. Ballesteros Flores, A. Martínez, Manuel Desco Menéndez, M. Abella García
XXXV Congreso anual de la Sociedad Española de Ingeniería Biomédica: Libro de actas / coord. por Raimon Camps Salat, 2017, ISBN 978-84-9082-797-0, págs. 243-246
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