Periodo de publicación recogido
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P.C. Juan, K.C. Lin, H.Y. Chu, Y.C. Kuo, H.W. Wang, T. Y. Shih
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 83, 2018, págs. 242-248
Effects of jpeg 2000 compression on automated dsm extraction: evidence from aerial photographs
J. K. Liu, T. Y. Shih
Photogrammetric Record, ISSN 0031-868X, Nº. 112, 2005, págs. 351-365
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