Periodo de publicación recogido
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Unified view on energy and electrical failure of the short-circuit operation of IGBTs
R. Baburske, F. J. Niedernostheide, H. J. Schulze, Riteshkumar Bhojani, J. Kowalski, J. Lutz
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 236-241
Influence of Joule heating on current filaments induced by avalanche injection
H. J. Schulze, U. Kellner Werdehausen, F. J. Niedernostheide, E. Falck
IEE Proceedings: Circuits, devices and systems, ISSN 1350-2409, Vol. 153, Nº 1, 2006, págs. 3-10
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