Periodo de publicación recogido
|
|
|
Characterization and modeling of dynamic variability induced by BTI in nano-scaled transistors
Xavier Garros, Antoine Laurent, Alexandre Subirats i Armengol, X. Federspiel, E. Vincent, Gilles Reimbold
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 80, 2018, págs. 100-108
Josep Quince i Miravalls, Alexandre Subirats i Armengol
Barcelona : Servei de Difusió i Edicions, Departament d'Ensenyament, 1992. ISBN 84-393-1963-0
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados