Periodo de publicación recogido
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An Efficient Dictionary Organization for Maximum Diagnosis
S. Kim, S. Chun, H. S. Kim
Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 1, 2006, págs. 37-48
Area Minimization of Exclusive-OR Intensive Circuits in FPGAs
H. S. Kim
Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 6, 2004, págs. 661-665
Efficient Realization of Parity Prediction Functions in FPGAs
H. S. Kim, J. C. Lo
Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 5, 2004, págs. 489-499
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