InstitucionesPeriodo de publicación recogido
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Editorial: What Can We Expect from Data Scientists
Kurt Englmeier, Fionn Murtagh
Journal of Theoretical and Applied Electronic Commerce Research, ISSN-e 0718-1876, Vol. 12, Nº. 1, 2017
Ward�s Hierarchical Agglomerative Clustering Method: Which Algorithms Implement Ward�s Criterion?
Fionn Murtagh, Pierre Legendre
Journal of classification, ISSN 0176-4268, Vol. 31, Nº 3, 2014, págs. 274-295
Theme Articles on Classification and Geometric Data Analysis
Fionn Murtagh
Journal of classification, ISSN 0176-4268, Vol. 31, Nº 1, 2014, pág. 1
Fast, Linear Time Hierarchical Clustering using the Baire Metric
Pedro Contreras, Fionn Murtagh
Journal of classification, ISSN 0176-4268, Vol. 29, Nº 2, 2012, págs. 118-143
The Remarkable Simplicity of Very High Dimensional Data: Application of Model-Based Clustering
Fionn Murtagh
Journal of classification, ISSN 0176-4268, Vol. 26, Nº 3, 2009, págs. 249-277
Book review: B. Le Roux and H. Rouanet, Geometric Data Analysis, From Correspondence Analysis to Structured Data Analysis, Dordrecht, Kluwer, 2004, pp. xi + 475.
Fionn Murtagh
Journal of classification, ISSN 0176-4268, Vol. 25, Nº 1, 2008, págs. 137-141
The Haar Wavelet Transform of a Dendrogram
Fionn Murtagh
Journal of classification, ISSN 0176-4268, Vol. 24, Nº 1, 2007, págs. 3-32
On Ultrametricity, Data Coding, and Computation
Fionn Murtagh
Journal of classification, ISSN 0176-4268, Vol. 21, Nº 2, 2004, págs. 167-184
Wedding the Wavelet Transform and Multivariate Data Analysis
Fionn Murtagh
Journal of classification, ISSN 0176-4268, Vol. 15, Nº 2, 1998, págs. 161-183
Daniel Stamate, Wajdi Alghamdi, Daniel Stahl, Ida Pu, Fionn Murtagh, Danielle Belgrave, Robin M. Murray, Marta di Forti
Information Processing and Management of Uncertainty in Knowledge-Based Systems. Applications: 17th International Conference, IPMU 2018, Cádiz, Spain, June 11-15, 2018, Proceedings, Part III / Jesús Medina Moreno (ed. lit.), Manuel Ojeda Aciego (ed. lit.), José Luis Verdegay Galdeano (ed. lit.), Irina Perfilieva (ed. lit.), Bernadette Bouchon Meunier (ed. lit.), Ronald R. Yager (ed. lit.), 2018, ISBN 978-3-319-91478-7, págs. 691-702
Big Data Scaling Through Metric Mapping: Exploiting the Remarkable Simplicity of Very High Dimensional Spaces Using Correspondence Analysis
Fionn Murtagh
Data Science: Innovative Developments in Data Analysis and Clustering / Francesco Palumbo (ed. lit.), Angela Montanari (ed. lit.), Maurizio Vichi (ed. lit.), 2017, ISBN 978-3-319-55723-6, págs. 295-306
A Featured-Based O(N2) Approach to Point Pattern Matching
Fionn Murtagh
11th IAPR : International Conference on Pattern Recognition: Proceedings : The Hague, The Netherlands, August 30 - September 3, 1992 / coord. por International Association for Pattern Recognition (IAPR), Vol. 2, 1992 (Conference B: Pattern Recognition Methodology and Systems), ISBN 0818629150, págs. 174-177
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