Periodo de publicación recogido
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A new foundation for control dependence and slicing for modern program structures
Venkatesh Prasad Ranganath, Torben Amtoft, Anindya Banerjee, Jhon Hatcliff, Matthew B. Dwyer
ACM transactions on programming languages and systems, ISSN 0164-0925, Vol. 29, Nº 5, 2007, págs. 125-167
Compatibility testing using patterns-based trace comparison
Venkatesh Prasad Ranganath, Pradid Harindran Vallathol, Pankaj Gupta
ASE´14. Proceedings of the 29th ACM/IEEE international conference on Automated software engineering / coord. por Ivica Crnkovic, 2014, ISBN 978-1-4503-3013-, págs. 469-478
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