Periodo de publicación recogido
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Accelerated lifetime test of RF-MEMS switches under ESD stress.
J. Ruan, N. Nolhier, G.J. Papaioannou, D. Trémouilles, V. Puyal, C. Villeneuve, T. Idda, F. Coccetti, R. Plana
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1256-1259
Capacitive RF MEMS analytical predictive reliability and lifetime characterization.
M. Matmat, F. Coccetti, A. Marty, R. Plana, C. Escriba, J.-Y. Fourniols, D. Esteve
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1304-1308
Kelvin probe microscopy for reliability investigation of RF-MEMS capacitive switches.
A. Belarni, M. Lamhamdi, P. Pons, L. Boudou, J. Guastavino, Y. Segui, G. Papaioannou, R. Plana
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1232-1236
ESD failure signature in capacitive RF MEMS switches.
J. Ruan, G.J. Papaioannou, N. Nolhier, N. Mauran, Marise Bafleur, F. Coccetti, R. Plana
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1237-1240
Alpha particle radiation effects in RF MEMS capacitive switches.
J. Ruan, E. Papandreou, M. Lamhamdi, M. Koutsoureli, F. Coccetti, P. Pons, G. Papaioannou, R. Plana
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1241-1244
M. Lamhamdi, P. Pons, U. Zaghloul, L. Boudou, F. Coccetti, J. Guastavino, Y. Segui, G. Papaioannou, R. Plana
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1248-1252
Structure dependent charging process in RF MEMS capacitive switches.
E. Papandreou, M. Lamhamdi, C.M. Skoulikidou, P. Pons, G. Papaioannou, R. Plana
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1812-1817
Electrostatic discharge failure analysis of capacitive RF MEMS switches.
J. Ruan, N. Nolhier, Marise Bafleur, L. Bary, F. Coccetti, T. Lisec, R. Plana
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1818-1822
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