M. Chan
Periodo de publicación recogido
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Artículos de revistas
Sub-threshold behavior of long channel undoped cylindrical surrounding-gate MOSFETs.
W. Bian, J. He, L. Zhang, J. Zhang, M. Chan
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 8, 2009, págs. 897-903
Silicon oxynitride integrated waveguide for on-chip optical interconnects applications.
C.K. Wong, H. Wong, M. Chan, Y.T. Chow, H.P. Chan
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 2, 2008, págs. 212-218
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