Petri Kärhä

• Artículos de revistas (5)

• Artículos de revistas

  • Investigation of comparison methods for UVA irradiance responsivity calibration facilities

    Jouni Envall, Lasse Ylianttila, Harry Moseley, Andrew Coleman, Murat Durak, Petri Kärhä, Erkki Ikonen

    Metrologia: International journal of scientific metrology, ISSN 0026-1394, Vol. 43, Nº 2, 2006 (Ejemplar dedicado a: The 9th International Conference on New Developments and Applications in Optical Radiometry (Newrad 2005)), págs. 27-30

    

  • Determination of distance offsets of diffusers for accurate radiometric measurements

    Pasi Manninen, Jari Hovila, Lauri Seppälä, Petri Kärhä, Lasse Ylianttila, Erkki Ikonen

    Metrologia: International journal of scientific metrology, ISSN 0026-1394, Vol. 43, Nº 2, 2006 (Ejemplar dedicado a: The 9th International Conference on New Developments and Applications in Optical Radiometry (Newrad 2005)), págs. 120-124

    

  • A portable field calibrator for solar ultraviolet measurements

    Petri Kärhä, Lasse Ylianttila, T. Koskela, K. Jokela, Erkki Ikonen

    Metrologia: International journal of scientific metrology, ISSN 0026-1394, Vol. 40, Nº 1, 2003 (Ejemplar dedicado a: 8th International Conference on New Developments in Optical Radiometry, Newrad 2002 NIST, Gaithersburg, MD, USA), págs. 17-20

    

  • Intercomparison of characterization techniques of filter radiometers in the ultraviolet region

    Petri Kärhä, Neil J. Harrison, S. Nevas, W. S. Hartree, I. Abu-Kassem

    Metrologia: International journal of scientific metrology, ISSN 0026-1394, Vol. 40, Nº 1, 2003 (Ejemplar dedicado a: 8th International Conference on New Developments in Optical Radiometry, Newrad 2002 NIST, Gaithersburg, MD, USA), págs. 50-54

    

  • Ageing of DXW-lamps

    Lasse Ylianttila, K. Jokela, Petri Kärhä

    Metrologia: International journal of scientific metrology, ISSN 0026-1394, Vol. 40, Nº 1, 2003 (Ejemplar dedicado a: 8th International Conference on New Developments in Optical Radiometry, Newrad 2002 NIST, Gaithersburg, MD, USA), págs. 120-123

    

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