Periodo de publicación recogido
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Structure optimization of multi-finger power SiGe HBTs for thermal stability improvement.
D. Jin, W. Zhang, H. Xie, L. Chen, P. Shen, N. Hu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 4, 2009, págs. 382-386
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