Periodo de publicación recogido
|
|
|
The Nature of Metallic Contamination on Various Silicon Substrates
T. Ohmi, G. M. Choi, H. Morita, J. S. Kim
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 82, Nº 10, 1999, págs. 1839-1845
Automatic Defect Pattern Detection on LSI Wafers Using Image Processing Techniques
M. Ichikawa, T. Ohmi, K. Maruo, T. Shibata, T. Yamaguchi
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 82, Nº 6, 1999, págs. 1003-1012
Functionality Enahncement in Elemental Devices for Implementing Intelligence on Integrated Circuits
T. Ohmi, T. Shibata
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 80, Nº 7, 1997, págs. 841-848
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados