J. Li

• Artículos de revistas (2)

• Artículos de revistas

  • A Multi-Code Compression Scheme for Test Time Reduction of System-on-Chip Designs

    H. Shieh, J. Li

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 91, Nº 10, 2008, págs. 2428-2434

    

  • Diagnosing Binary Content Addressable Memories with Comparison and RAM Faults

    J. Li

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 87, Nº 3, 2004, págs. 601-608

    

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