Periodo de publicación recogido
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A Simplified Process Modeling for Reverse Short Channel Effect of Threshold Voltage of MOSFET
K. Fukuda, H. Hayashi, N. Miura, H. Komatsubara
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 84, Nº 9, 2001, págs. 1234-1239
Blue-Emitting BaAl~2S~4: Eu Thin-Film Electroiluminescent Devices Prepared by Two Targets Pulse Electron Beam Evaporation
R. Nakano, N. Miura, M. Kawanishi, H. Matsumoto
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 83, Nº 10, 2000, págs. 1618-1621
Systematic Yield Simulation Methodology Applied to Fully-Depleted SOI MOSFET Process
K. Nishi, N. Miura, H. Hayashi, K. Fukuda
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 83, Nº 8, 2000, págs. 1288-1294
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