Periodo de publicación recogido
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Ray Tracing Analysis of Large-Scale Random Rough Surface Scattering and Delay Spread
K. Y. Yoon, M. Tateiba, K. Uchida
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 84, Nº 2, 2001, págs. 267-270
FVTD Simulation for Random Rough Dielectric Surface Scattering at Low Grazing Angle
K. Y. Yoon, M. Tateiba, K. Uchida
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 83, Nº 12, 2000, págs. 1836-1843
Monte Carlo Simulation of Sub-0.1 mum Devices with Schottky Contact Model
K. Matsuzawa, K. Uchida, A. Nishiyama
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 83, Nº 8, 2000, págs. 1212-1217
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