Periodo de publicación recogido
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Y. Hayashi, H. Sone
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 91, Nº 8, 2008, págs. 1306-1312
Formation Mechanism of Dark Bridge between Contacts with Very Slow Opening Speed
Hiroshi Inoue, M. Taniguchi, T. Takagi, H. Ishida, S. Suzuki, H. Sone
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 89, Nº 8, 2006, pág. 1136
Hiroshi Inoue, H. Ishida, M. Taniguchi, H. Sone
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 88, Nº 8, 2005, pág. 1566
H. Sone
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 86, Nº 5, 2003, págs. 714-718
Y. Nemoto, Y. Ebara, T. Koizumi, H. Sone
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 82, Nº 1, 1999, págs. 49-54
A High-Resolution Measurement System for Surface Profile of Electric Contact
T. Takagi, Y. Ebara, H. Sone, Y. Nemoto
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 81, Nº 3, 1998, pág. 432
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