Periodo de publicación recogido
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A Single Input Change Test Pattern Generator for Sequential Circuits
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 91, Nº 8, 2008, págs. 1365-1370
A High-Speed Current-Mode Multilevel Identifying Circuit for Flash Memories
H. Lin, F. Liang
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 86, Nº 2, 2003, págs. 229-235
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