Takao Kaneko

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  • Correction of Overlapping Template Matching Test Included in NIST Randomness Test Suite

    Kenji Hamano, Takao Kaneko

    IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer, ISSN 0916-8508, Vol. 90, Nº 9, 2007, págs. 1788-1792

    

  • Analog standard cells for A-D converters with [delta-sigma] modulators

    Takao Kaneko

    IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer, ISSN 0916-8508, Vol. 83, Nº 2, 2000, págs. 252-260

    

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