Periodo de publicación recogido
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Low-Cost IP Core Test Using Tri-Template-Based Codes
Gang Zeng, Hideo Ito
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 90, Nº 1, 2007, págs. 288-295
Concurrent Core Testing for SOC Using Merged Test Set and Scan Tree
Gang Zeng, Hideo Ito
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 89, Nº 3, 2006, págs. 1157-1164
X-Tolerant Test Data Compression for SOC with Enhanced Diagnosis Capability
Gang Zeng, Hideo Ito
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 88, Nº 7, 2005, págs. 1662-1670
Hybrid Pattern BIST for Low-Cost Core Testing Using Embedded FPGA Core
Gang Zeng, Hideo Ito
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 88, Nº 5, 2005, págs. 984-992
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