Jacob Savir

• Artículos de revistas (3)

• Artículos de revistas

  • Effect of BIST Pretest on IC Defect Level

    Yoshiyuki Nakamura, Jacob Savir, Hideo Fujiwara

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 89, Nº 10, 2006, págs. 2626-2636

    

  • Defect Level vs. Yield and Fault Coverage in the Presence of an Unreliable BIST

    Yoshiyuki Nakamura, Jacob Savir, Hideo Fujiwara

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 88, Nº 6, 2005, págs. 1210-1216

    

  • Analog Circuit Test Using Transfer Function Coefficient Estimates

    Z. Guo, Jacob Savir

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 87, Nº 3, 2004, págs. 642-646

    

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