Thomas Clouqueur

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• Artículos de revistas

  • Analysis of Test Generation Complexity for Stuck-At and Path Delay Faults Based on Tk-Notation

    Chia Yee Ooi, Thomas Clouqueur, Hideo Fujiwara

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 90, Nº 8, 2007, págs. 1202-1212

    

  • Classification of Sequential Circuits Based on Tk Notation and Its Application

    Chia Yee Ooi, Thomas Clouqueur, Hideo Fujiwara

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 88, Nº 12, 2005, págs. 2738-2747

    

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