Periodo de publicación recogido
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A Memory Grouping Method for Reducing Memory BIST logic of System-on-Chips
Masahide Miyazaki, Tomokazu Yoneda, Hideo Fujiwara
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 89, Nº 4, 2006, págs. 1490-1497
A DFT Selection Method for Reducing Test Application Time of System-on-Chips
Masahide Miyazaki
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 87, Nº 3, 2004, págs. 609-619
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