Periodo de publicación recogido
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Detection of CMOS Open Node Defects by Frequency Analysis
Hiroyuki Michinishi
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 90, Nº 3, 2007, págs. 685-687
Hiroyuki Michinishi
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 87, Nº 3, 2004, págs. 551-556
Testing for the Programming Circuit of SRAM-Based FPGAs
Hiroyuki Michinishi
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 82, Nº 6, 1999, págs. 1051-1057
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