S. Stankovic

• Artículos de revistas (2)

• Artículos de revistas

  • NBTI and irradiation related degradation mechanisms in power VDMOS transistors

    N. Stojadinovic, S. Djoric-Veljkovic, V. Davidovic, S. Golubovic, S. Stankovic, A. Prijić, Z. Prijić, I. Manic, D. Dankovic

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 135-141

    • Resumen
    

  • XML Framework for Various Types of Decision Diagrams for Discrete Functions

    S. Stankovic, J. Astola

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 90, Nº 11, 2007, págs. 1731-1740

    

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