Yun Bai

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  • Effects of combined NO and forming gas annealing on interfacial properties and oxide reliability of 4H-SiC MOS structures

    Zhaoyang Peng, Yiyu Wang, Huajun Shen, Chengzhan Li, Jia Wu, Yun Bai, Kean Liu, Xinyu Liu

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 58, 2016, págs. 192-196

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  • Methane oxidation in landfill waste biocover soil: Kinetics and sensitivity to ambient conditions

    Jing Wang, Fang-Fang Xia, Yun Bai, Cheng-Ran Fang, Dong-Sheng Shen, Ruo He

    Waste management, ISSN-e 0956-053X, Nº. 5, 2011 (Ejemplar dedicado a: Landfill Gas Emission and Mitigation), págs. 864-870

    

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