Susan L. Albin

• Artículos de revistas (2)

• Artículos de revistas

  • Clustered defects in IC fabrication: Impact on process control charts

    David J. Friedman, Susan L. Albin

    Quality control and applied statistics, ISSN 0033-5207, Vol. 36, Nº. 10, 1991, págs. 565-568

    

  • The lognormal distribution for modeling quality data when the mean is near zero

    Susan L. Albin

    Quality control and applied statistics, ISSN 0033-5207, Vol. 36, Nº. 1, 1991, págs. 51-52

    

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