Periodo de publicación recogido
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Aplicaciones avanzadas para la automatización en la industria de semiconductores
Manuel José Moreno Lizaranzu, Federico Cuesta Rojo
Actas de las XXXIII Jornadas de Automática: Vigo, 5 al 7 de Septiembre de 2012 / coord. por Matías García Rivera, Rafael Sanz Domínguez, 2012, ISBN 978-84-8158-583-4
Monitorizacion automatica en tiempo real de equipos de prueba de semiconductores
Manuel José Moreno Lizaranzu, Federico Cuesta Rojo
Actas de las XXXIII Jornadas de Automática: Vigo, 5 al 7 de Septiembre de 2012 / coord. por Matías García Rivera, Rafael Sanz Domínguez, 2012, ISBN 978-84-8158-583-4
Computer integrated manufacturing in semiconductor industry: automation, electronic wafer mapping, defect reduction and equipment utilization improvement in probe and final test.
Manuel José Moreno Lizaranzu
Tesis doctoral dirigida por Federico Cuesta Rojo (dir. tes.). Universidad de Sevilla (2012).
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