InstitucionesÁrea de conocimientoPeriodo de publicación recogido
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Reducing feature models to improve runtime adaptivity on resource limited devices
Karsten Saller, Sebastian Oster, Andy Schürr, Julia Schroeter, Malte Lochau
16th International Software Product Line Conference, SPLC´12 / coord. por Eduardo Santana de Almeida, Christa Schwanninger, David Benavides, Vol. 2, 2012, ISBN 9781450310956, págs. 135-142
Industrial Evaluation of Pairwise SPL Testing with MoSo-PoLiTe
Sebastian Oster, Malte Lochau
Proceedings of the Sixth International Workshop on Variability Modeling of Software-Intensive Systems / coord. por Ulrich Eisenecker, Sven Apel, Stefania Gnesi, 2012, ISBN 9781450310581, págs. 55-62
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