InstitucionesÁrea de conocimientoPeriodo de publicación recogido
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Potential Biases in Bug Localization: Do They Matter?
Pavneet Singh Kochhar, Yuan Tian, David Lo
ASE´14. Proceedings of the 29th ACM/IEEE international conference on Automated software engineering / coord. por Ivica Crnkovic, 2014, ISBN 978-1-4503-3013-, págs. 803-814
DupFinder: Integrated Tool Support for Duplicate Bug Report Detection
Ferdian Thung, Pavneet Singh Kochhar, David Lo
ASE´14. Proceedings of the 29th ACM/IEEE international conference on Automated software engineering / coord. por Ivica Crnkovic, 2014, ISBN 978-1-4503-3013-, págs. 871-874
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