Periodo de publicación recogido
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Mohammad Tariq Jan, Farooq Ahmad, Nor Hisham B. Hamid, Mohd Haris B. Md Khir, Muhammad Shoaib, Khalid Ashraf
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 63, 2016, págs. 82-89
Temperature dependent Young's modulus and quality factor of CMOS-MEMS resonator: Modelling and experimental approach
Mohammad Tariq Jan, Farooq Ahmad, Nor Hisham B. Hamid, Mohd Haris B. Md Khir, Khalid Ashraf, Muhammad Shoaib
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 57, 2016, págs. 64-70
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