Periodo de publicación recogido
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Compliance current dominates evolution of NiSi2 defect size in Ni/dielectric/Si RRAM devices
Sen Mei, Michel Bosman, Raghavan Nagarajan, Xing Wu, Kin Leong Pey
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 71-77
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