Periodo de publicación recogido
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Microstructural evolution of sintered silver at elevated temperatures
Seyed Amir Paknejad, Ali Mansourian, Julian Greenberg, Khalid Khtatba, Linde Van Parijs, S.H. Mannan
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 63, 2016, págs. 125-133
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