Periodo de publicación recogido
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Ku band damage characteristics of GaAs pHEMT induced by a front-door coupling microwave pulse
Yang Liu, ChangChun Chai, QingYang Fan, ChunLei Shi, Xiaowen Xi, XinHai Yu, YingTang Yang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 66, 2016, págs. 32-37
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