Periodo de publicación recogido
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Yield-based process capability indices for nonnormal continuous data
Piao Chen, Dong-xing Wang, Zhi Sheng Ye
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Nº. 51, 2, 2019, págs. 171-180
Strategic allocation of test units in an accelerated degradation test plan
Zhi Sheng Ye, Qingpei Hu, Dan Yu
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Nº. 51, 1, 2019, págs. 64-80
Uncertainty quantification for monotone stochastic degradation models
Piao Chen, Zhi Sheng Ye
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Nº. 50, 2, 2018, págs. 207-219
Approximate Statistical Limits for a Gamma Distribution
Piao Chen, Zhi Sheng Ye
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Nº. 49, 2017, págs. 64-77
A Burn-In Scheme Based on Percentiles of the Residual Life
Zhi Sheng Ye, Loon Ching Tang, Min Xie
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Vol. 43, Nº. 4, 2011, págs. 334-345
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