Periodo de publicación recogido
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Zhaozhao Xu, Donghua Liu, Wei Xiong, Jun Hu, Wenting Duan, Hualun Chen, Wensheng Qian, Weiran Kong, Shichang Zou
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 84, 2018, págs. 157-162
Investigation of read disturb in split-gate memory and its feasible solution
Wenyi Zhu, Binghan Li, Tao Yu, Weiran Kong, Shichan Zou
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 68, 2017, págs. 51-56
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