Periodo de publicación recogido
|
|
|
Dynamical analysis for flaw shape identification in non linear eddy current tests
Matteo Cacciola, Domenico Costantino, Francesco Carlo Morabito, Mario Versaci
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 26, Nº 4 (Selected papers from the 19th Symposium on Electromagnetic Phenomena in Nonlinear Circuits 2006), 2007, págs. 1081-1094
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2025 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados