Renske M. van der Veen

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  • Subparticle ultrafast spectrum imaging in 4d electron microscopy

    Aycan Yurtsever, Ahmed H. Zewail, Renske M. van der Veen

    Science, ISSN 0036-8075, Vol. 335, Nº 6064, 2012, págs. 59-64

    

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