Guenther Benstetter
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Artículos de revistas
Protective nanometer films for reliable Cu-Cu connections
Tobias Berthold, Guenther Benstetter, Werner Frammelsberger, Manuel Bogner, Rosana Rodríguez, Montserrat Nafria i Maqueda
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 383-389
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