Periodo de publicación recogido
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Investigation and application of vertical NPN devices for RF ESD protection in BiCMOS technology
Guo-Lun Huang, Wei-Hao Fu, Chun-Yu Lin
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 83, 2018, págs. 271-280
Design of 2.4-GHz T/R switch with embedded ESD protection devices in CMOS process
Chun-Yu Lin, Rui-Hong Liu, Ming-Dou Ker
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 78, 2017, págs. 258-266
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