Periodo de publicación recogido
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A novel vertical SCR for ESD protection in 40 V HV bipolar process
Fan Liu, Zhiwei Liu, Jizhi Liu, Hui Cheng, Liu Zhao, Rui Tian, Shiyu Song, Juin J. Liou
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 78, 2017, págs. 307-310
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