Periodo de publicación recogido
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Adrian Bojita, Cristian Boianceanu, Marius Purcar, Ciprian Florea, Dan Simon, Cosmin-Sorin Plesa
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 87, 2018, págs. 142-150
Cosmin-Sorin Plesa, Marius Neag, Cristian Boianceanu, Andrei Negoita
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 79, 2017, págs. 509-516
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