Periodo de publicación recogido
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Study of electrochemical migration based transport kinetics of metal ions in Sn-9Zn alloy
Haoran Ma, Anil Kunwar, Jun Chen, Lin Qu, Yunpeng Wang, Xueguan Song, Peter Råback, Haitao Ma, Ning Zhao
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 83, 2018, págs. 198-205
Anil Kunwar, Shengyan Shang, Peter Råback, Yunpeng Wang, Julien Givernaud, Jun Chen, Haitao Ma, Xueguan Song, Ning Zhao
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 80, 2018, págs. 55-67
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